SpecWin Pro 5.0 führt ein flexibles Messframework ein, das sich an unterschiedliche Anwendungen anpasst. Zentrales Management aller Spektrometer über eine vereinheitlichte Benutzeroberfläche beschleunigt Workflow. Goniometer-Sequence Calculator und automatische Justagekompensation bieten hochauflösende Strahldaten. Integrierte SMU-Kommunikation ermöglicht VCSEL-Tests mit Pulsdauern im Mikrosekundenbereich. Die Zusatzoption TOP300/CAS 140D mit View-Finder-Kamera liefert Near-Eye-Display-Charakterisierungen in Augenentfernung. Standardisierte EULUMDAT-, IES- und Relux-kompatible UGR-Exports steigern Effizienz und Normkonformität nachhaltig. Automationsskripte reduzieren manuelle Eingriffe, während detaillierte Reportfunktionen Dokumentationsprozesse verbessern.
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Flexibles Messsystem ermöglicht präzise Lichtanalysen mit Export-Optionen für Normformate
Leuchte mit beidseitiger Abstrahlcharakteristik (Foto: Instrument Systems GmbH)
SpecWin Pro 5.0 vereinheitlicht alle Spektrometer-Lösungen von Instrument Systems in einer einzigen Anwendung mit übersichtlichem Interface für Parametersteuerung und Datenanalyse. Neben den Standard-Exporten in EULUMDAT (LDT) und IES (IESNA LM-63) enthält das Update die CIE-Norm 190:2010 und aktualisierte UGR-Berechnungsalgorithmen für Relux. Die durchgängige Modularität steigert die Messgenauigkeit, optimiert den Workflow und bietet skalierbare Optionen für unterschiedlichste Lichtmesstechnik-Aufgaben. Sie ermöglicht Anwendern eine Integration in Automatisierungsumgebungen, reduziert Einarbeitungszeiten und unterstützt komplexe Mehrkanal-Messungen.
Minimaler Verrechnungsfehler zwischen Sequenzen ermöglicht fehleroptimierten Messablauf mit Präzision
Mit dem Sequence Calculator erweitert das Goniometer-Modul seine Möglichkeiten, indem es mehrere Messsequenzen mit verschiedenen DUT-Ausrichtungen automatisiert verrechnet. Dadurch lassen sich auch Leuchten mit asymmetrischer oder doppelseitiger Lichtverteilung vollständig dokumentieren. Eine automatische Justagekompensation korrigiert Abweichungen und optimiert die Verrechnungsergebnisse. Anschließend generiert die erweiterte Interpolation hochdetaillierte Strahlungsdaten. Diese stehen direkt im EULUMDAT- oder IES-Format zum Export bereit und können sofort in Planungs-, Simulations- oder Prüfberichte integriert werden, automatisch skaliert verifiziert archiviert.
Effiziente Labor-Setups dank einheitlicher SMU- und Spektrometerintegration in SpecWin
Die SMU-Integration in SpecWin Pro 5.0 vereinfacht die Messung schnell gepulster VCSELs durch direkte Anbindung von Source Measure Units führender Anbieter wie Keithley Instruments oder Vektrex Inc. Die Steuerung der Pulse mit bis zu zehn Mikrosekunden Dauer erfolgt zentral in der grafischen Benutzeroberfläche, wodurch externe Makros oder Skripte überflüssig werden. Dieser Ansatz spart Zeit bei der Versuchsvorbereitung, reduziert Fehlermöglichkeiten und gewährleistet eine konsistente Erfassung synchronisierter elektrischer und optischer Messgrößen verlässlich.
Labor-Workflows optimiert dank nahtloser hochautomatisierter Steuerung von TOP300/CAS 140D
Die Nutzung des TOP300-Messzubehörs in Verbindung mit dem kalibrierten CAS 140D-Spektrometer bietet AR/VR-Brillendesignern eine umfassende Testlösung für Near-Eye-Displays. Das optische System deckt einen Messwinkelbereich von ±1,2° ab und bildet damit realitätsnah den menschlichen Blick ab. Eine integrierte View-Finder-Kamera sichert die präzise Ausrichtung des Prüflings und erhöht so die Wiederholgenauigkeit der Messungen. Dabei reduzieren automatisierte Justagefunktionen den Aufwand für manuelle Einstellungen deutlich. Entwickler profitieren von konsistenten Daten, die belastbare Messergebnisse liefern.
Detaillierte Interpolation und Goniometerberechnungen liefern hochpräzise komplette Abstrahlcharakteristikdaten zuverlässig
Die neue Version SpecWin Pro 5.0 bietet eine durchgängige Softwareplattform zur Steuerung und Auswertung aller Instrument Systems Spektrometer sowie modularer Goniometer-Systeme. Dank Sequence Calculator und Interpolationsverfahren werden komplexe Abstrahlungsprofile präzise analysiert. Die SMU-Ansteuerung meistert gepulste VCSEL-Messungen mit Pulslängen bis 10 µs. Ergänzt wird die Lösung durch das TOP300/CAS 140D-System mit View-Finder-Kamera für Near-Eye-Display-Tests. Standardkonforme EULUMDAT-, IES- und Relux-kompatible UGR-Exporte beschleunigen Planung und Reporting im Labor nachhaltig. Gleichzeitig profitieren Anwender von automatisierten Workflows und höherer Datenkonsistenz.
